AEC-Q200 REV D标准总共有14个表格，除表1列出通用测试的要求外，从表 2~14分别列出不同类型无源器件的测试方案和要求。薄膜电容AEC-Q200认证测试依据Table 4表格进行测试，检测具备AEC-Q200全项CNAS检测资质和检测能力，可提供薄膜电容AEC-Q200认证测试服务，接下来为大家介绍下薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求。

薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求

1. High Temperature Exposure (Storage) 高温存储

测试方法：MIL-STD-202 Method 108；

测试要求：1000小时。在额定工作温度下（例如，85°C的零件可在85°C下储存1000小时，同样适用于100°C和125°C的零件），不通电。试验结束后24±4小时进行测量。

2. Temperature Cycling 温度循环

测试方法：JES D22 Method JA-104；

测试要求：1000次循环（-55°C至85°C）注：如果部分温度为100°C或125°C，则1000次循环将处于该额定温度。试验结束后24±4小时进行测量。每个极端温度下的最大停留时间为30分钟。1分钟，最大过渡时间。

3. Moisture Resistance 湿度抵抗

测试方法：MIL-STD-202 Method 106；

测试要求：t=24小时/周期。注：不需要步骤7a和7b，不通电。试验结束后24±4小时进行测量。

4. Biased Humidity 偏高湿度

测试方法：MIL-STD-202 Method 103；

测试要求：1000小时40°C/93%相对湿度，额定电压。试验结束后24±4小时进行测量。

5. Operational Life 工作寿命

测试方法：MIL-STD-202 Method 108；

测试要求：1000小时TA=85°C，注：如果100°C或125°C为1000小时，则条件D（1000小时）。会在那个温度下。金属化膜：85℃时为额定电压的125%。85℃以上为额定电压的100%。试验结束后24±4小时进行测量。

6. External Visual 外观

测试方法：MIL-STD-883 Method 2009；

测试要求：检查产品结构、标记和工艺。不需要进行电气测试。

7. Physical Dimension 尺寸

测试方法：JESD22 Method JB-100；

测试要求：验证物理尺寸是否符合适用的产品规范。注：用户和供应商规范。不需要进行电气测试。

8. Terminal Strength (Leaded) 端子强度（引脚）

测试方法：MIL-STD-202 Method 211；

测试要求：仅测试引线设备的引线完整性。条件： A (2.27 kg), C (227 g), E (1.45 kg-mm)。

9. Resistance to Solvents 溶剂抵抗

测试方法：MIL-STD-202 Method 215；

测试要求：注：也可使用水性化学清洗剂-OKEM clean或同等产品。不要使用禁用溶剂。

10. Mechanical Shock 机械冲击

测试方法：MIL-STD-202 Method 213；

测试要求：方法213的图1。条件C

11. Vibration 振动

测试方法：MIL-STD-202 Method 204；

测试要求：5克20分钟，3个方向各12个周期，使用8“X5”PCB，.031”厚。8”一侧有7个安全点，另一侧有2个安全点。安装在距任何安全点2”范围内的零件。从10-2000赫兹进行测试。

12. Resistance to Soldering Heat 耐焊接热

测试方法：MIL-STD-202 Method 210；

测试要求：注：SMD使用程序2；对于含铅使用程序1，焊料在装置主体1.5mm范围内。

13. ESD 静电放电

测试方法：AEC-Q200-002 Or ISO/DIS10605。

14. Solderability 可焊性

测试方法：J-STD-002；

测试要求：适用于含铅和SMD。不需要进行电气测试。放大50倍。条件：含铅：235°C时的方法A，第3类。SMD: a）方法B，155°C干热235°C下4小时

b）215°C时的方法b第3类。c）260°c时的方法D第3类。

15. Electrical Characterization 电气特性

测试方法：用户规格；

测试要求：按批次和样品尺寸要求进行参数化测试，总结以显示室温下的最小、最大、平均和标准偏差以及最小和最大工作温度。

16. Flammability 可燃性

测试方法：UL-94；

测试要求：可接受V-0或V-1。不需要进行电气测试。

17. Board Flex 板弯曲

测试方法：AEC-Q200-005；

测试要求：最短保持时间为60秒。

18. Terminal Strength (SMD) 端子强度（SMD）

测试方法：AEC-Q200-006。

薄膜电容AEC-Q200认证测试注意事项

1. 每个环境应力测试项目前后都要进行电参数测试，特别要求除外。

2. 1000小时的长时间老化测试会额外增加250，500，1000小时几个阶段。

3. 一般电参数测试会是在室温状态（25±5 °C ）下进行，应力测试完成后24±4小时内进行。

4. No.15 电参数测试将会在宣称的低温，室温，高温中进行测试。

5. 接受条件和要求参数依据客户规格书进行判定，AEC-Q200所有测试只接受零失败。