电子元器件概述

电子元器件：电子元件和电子器件的总称，是机器、仪器的组成部分。

电子元件：又叫被动元件，顾名思义，没有源，只是对外界信号的响应，电阻、电容、电感、磁环、变压器、熔断器、晶振、谐振，接插件，线缆等等；

电子器件：又叫有源器件，即内部实际上是有一个“电源”，使用中要加一个外界电源和一个外界信号，可起到对信号放大，处理等功能；包括分立器件，集成电路，机电类器件。

分立器件：可以理解为在单一功能下不可再拆分的电子器件，二/三极管，晶体管，光电二极管，发光二极管，激光二极管……

集成电路：简单理解由两个以上分立器件组成电路，主要包括模拟集成电路，数字集成电路，数模混合集成电路。

模拟集成电路：运算放大器，模拟乘法器，电源基准，放大器，滤波器，反馈电路，光耦等。

数字集成电路：处理器，单片机，比较器，TTL，存储器，FPGA，DSP等。

混合集成电路：AD/DA、集成芯片模块等。

机电类器件：继电器，MEMS等。

电子元器件筛选主要设备

一、电子元器件筛选电测试主要设备

阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、半导体参数测试系统、高精度图示仪、网络分析仪、信号发生器、频谱分析仪、数字集成电路测试系统、模拟集成电路测试系统、继电器测试系统、LCR、电源模块测试系统等。

电子元器件筛选电测试覆盖产品

元件（阻容感、磁珠等）、分立器件、数字/模拟集成电路、线缆/连接器、继电器、晶振/晶谐、滤波器、电源模块等。

二、环境、应力筛选主要设备

1. 高低温试验箱：热循环试验；

2. 振动台-振动试验；

3. 恒定加速度试验台：恒定加速度试验；

4. 可编程电源：电压、功率老炼试验；

5. 电子负载：电流、功率老炼；

6. 颗粒碰撞噪声测试仪。

环境应力筛选能力主要覆盖：

1. 扫频/随机振动；

2. 低温/高温存储；

3. 温度循环；

4. 恒定加速度；

5. 粒子碰撞噪声检测（PIND）。

三、寿命/老化/老炼试验的主要设备

1. 单片集成电路高温动态老炼系统；

2. 混合集成电路高温动态老炼系统；

3. 电源模块高温老炼检测系统；

4. 晶体振荡器高温老化测试系统；

5. 分立器件综合老炼检测系统；

6. 分立器件间歇寿命试验系统；

7. 电容器高温老炼检测系统；

8. 大功率晶体管老炼检测系统；

9. 继电器低电平寿命筛选系统；

10. 继电器中电平寿命筛选系统；

11. 继电器高电平寿命筛选系统。

寿命筛选能力主要覆盖：

电容器、分立器件（二极管、晶体管等）、数字/模拟集成电路、继电器、晶振/晶谐、滤波器、电源模块。

四、外观检查的主要设备

1. 光学显微镜；

2. 金相显微镜。

五、密封检测主要设备

1. 氦质谱检漏仪；

2. 碳氟化合物粗检漏仪。

六、X射线照相的主要设备

X-RAY透射系统。

X射线筛选能力主要覆盖：

1. 内部无损检测；

2. 内部缺陷测试。

七、扫描声学显微镜检查的主要设备

声扫检测设备：超声扫描显微镜。